A Varredura em campo da Intel® para processadores Intel® Xeon® da 5ª Geração melhora o gerenciamento de frotas de servidores
Tipo de conteúdo: Instalação e configuração | ID do artigo: 000099537 | Última revisão: 31/01/2025
Os processadores escaláveis Intel® Xeon® da 5ª Geração, anteriormente com codinome Emerald Rapids, introduziram uma nova capacidade de confiabilidade, disponibilidade e capacidade de manutenção (RAS), chamada Intel® In-Field Scan. Esta é uma família de ferramentas projetada para ajudar os administradores de sistemas a encontrar com rapidez e facilidade os processadores que falharam ao longo do tempo. A Varredura em Campo da Intel® tem um roteiro de recursos que serão incluídos em processadores atuais e futuros. Scan-at-Field (SAF) e Array Built In Self Test (BIST) são os dois primeiros recursos da família In-Field Scan e ambos estão disponíveis em processadores da 5ª Intel® Xeon®.
A Varredura em campo da Intel® é mínimamente intrusiva e projetada para testar rapidamente um núcleo, enquanto todos os outros núcleos no nó continuam a executar cargas de trabalho do cliente.
A Scan* é um método padrão do setor para detectar falhas em dispositivos semicondutores. Até agora, a varredura tem sido usada por equipamentos de teste especializados em fábricas de fabricação de chips. A Intel usa a varredura para testar os processadores durante a fabricação de alto volume (HVM - High-Volume Manufacturing).
A varredura em campo permite que os clientes executem um subconjunto dos testes de varredura de fabricação da Intel para verificar núcleos de processamento individuais em busca de falhas. Usando padrões de teste fornecidos pela Intel (chamados de Imagens de Teste de Varredura), cada núcleo dentro do pacote do processador pode ser testado de forma independente para confirmar a operação adequada.
O array BIST verifica os caches L1 (nível 1) e L2 (nível 2) e muitos dos arquivos de registro e matrizes de dados em cada núcleo. Sendo um Built In Self Test (BIST), não há imagens de teste a serem carregadas; todos os testes são coordenados por um módulo de teste dedicado em cada núcleo.
Uma visão geral técnica de alto nível da SAF e do ArrayBIST é fornecida no artigo técnico Como encontrar componentes defeituosos em um artigo técnico do Live Fleet Environment. Os detalhes sobre os requisitos do sistema e como executar a Varredura em campo são fornecidos no Guia de habilitação do processador Intel® In-Field Scan for 5ª Geração Intel® Xeon® do processador.
A Varredura em Campo da Intel® é um avanço importante no domínio de serviços de confiabilidade e disponibilidade, pois permite que os clientes usem os recursos de teste do setor para identificar rapidamente unidades defeituosas em sua frota.
Existem requisitos de hardware e software para habilitar a Varredura Em Campo Intel® em uma plataforma. Abaixo está um resumo dos requisitos.
A Varredura em Campo da Intel® é projetada e otimizada para ser usada por administradores de sistema para testar a frota periodicamente para garantir que os processadores estejam funcionando corretamente. A Varredura em Campo da Intel® fornece aos administradores do sistema um teste de processador muito rápido que pode ser executado em nós ao vivo (significando um nó que está on-line e executando aplicativos de usuário) sem interromper toda a operação do nó. Neste caso, o termo significa ~200 ms ou menos.
Testes periódicos da frota são recomendados para encontrar componentes que falharam ao longo do tempo. A frequência para testar a frota e quão extensa de um teste para executar é uma questão complexa. Várias variáveis entram em jogo, por exemplo: há quanto tempo o processador faz em execução; qual é a taxa prevista de Falha no tempo (FIT) 2 do processador; qual é a tolerância do cliente para SDE (Erros de dados silenciosos); e o tempo que o administrador do sistema está disposto a dedicar à manutenção proativa do sistema.
A descoberta de componentes defeituosos em um artigo técnico do Live Fleet Environment fornece considerações e um exemplo da frequência com que a Varredura em campo pode ser executada.
O Guia de habilitação da 5ª geração da Intel® In-Field Scan for 5ª Geração Intel Xeon possui informações detalhadas sobre como executar e testar e entender resultados.
As imagens de teste de varredura em campo da Intel® para a 5ª geração de processadores Intel® Xeon® e as instruções para verificar a versão ou carregar uma nova imagem são publicadas (é necessária uma conta NDA - Como solicitar um Centro de recursos e documentação da Intel®).
O aplicativo De varredura em campo da Intel® é publicado (é necessária uma conta NDA - Como solicitar um Centro de recursos e documentação Intel®).
Em uma frota com centenas de milhares ou milhões de processadores, falhas podem ocorrer regularmente. Encontrar esses defeitos o mais rápido possível é essencial para minimizar as interrupções das operações do cliente.
A Intel está liderando o setor, fornecendo várias ferramentas e um roteiro de recursos para testar processadores para a operação correta. A Varredura em Campo da Intel® expande esses recursos de teste para melhorar o gerenciamento de frotas por administradores de sistemas.
A Intel também oferece os Intel® Data Center Diagnostic Tool (Intel® DCDiag). O Intel® DCDiag é um conjunto de testes que verifica metodicamente a maioria das funcionalidades do SoC, incluindo o de cada núcleo de microprocessador individual. Ao verificar se cada computação do DCDIAG está correta, e não apenas confirmando que o teste foi concluído corretamente, o DCDIAG é capaz de detectar muitos tipos de falhas, incluindo aquelas que se manifestam como Erros de Dados Silenciosos. Para obter mais informações sobre o Intel® DCDiag acesse este link.
A Varredura em Campo da Intel® e o Intel® DCDiag são ferramentas de teste complementares. A Varredura em campo da Intel® é mínimamente intrusiva e projetada para testar rapidamente um núcleo, enquanto todos os outros núcleos no nó continuam a executar cargas de trabalho do cliente. O Intel® DCDiag é um conjunto abrangente de testes de processadores e é mais eficaz quando todo o nó de processamento é dedicado a testes. Como as ferramentas executam conteúdo de teste diferente, a Intel descobriu que cada ferramenta identifica diferentes falhas em todos os processadores testados.
Nota: Nem todas as SKUs dos processadores Intel® Xeon® da 5ª Geração suportam Intel® In-Field Scan.